公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀（原法國Sopra公司GES5-E）。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級瞬態(tài)譜儀。

SE-2000光譜橢偏儀（原法國Sopra公司）是的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)商，其高精度橢偏儀在半導體、化合物半導體（GaAs/SiC）、LCD和MEMS領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。目前有超過500臺的Sopra橢偏儀應(yīng)用在各個行業(yè)。

主要特點：

1. 高精度的薄膜測量（膜厚、n值、K值）
2. 家寬光譜型橢偏儀（光譜范圍從深紫外的193nm至遠紅外的25微米）
3. VLSI行業(yè)測試標準均使用SOPRA的設(shè)備進行標定
4. 較強的可擴展性
5. 微光斑：小可達60微米

SE-2000型橢偏儀

SE-2000是一款的模塊化光學測試平臺，是一款具有可旋轉(zhuǎn)補償?shù)墓庾V型橢偏儀。它是一種非接觸式和非破壞性的光學測試方法，可以測試基底上的單層膜和多層膜，從而獲得薄膜的厚度和光學特性。該系統(tǒng)具有強大的模塊和多功能設(shè)計，可以滿足從簡單到復雜的應(yīng)用的需求，如偏振測量、散射測量和利用米勒矩陣的橢圓偏振測量技術(shù)。它有一個特別的獨立的可選擇角度的臂，和小的光點尺寸。SE-2000型橢便儀具有目前市場上寬的光譜范圍，選擇了選件FTIR橢便儀測試頭，在同一個可見光測試臂上實現(xiàn)光譜范圍從深紫外（193nm）到中紅外的25μm。

它可以使用光譜儀和探測器陣列進行快速檢測，也可以使用分光計和單點探測器進行高分辨率的檢測，也可以再同一工具上同時使用兩種模式

SE-2000橢便儀包括Semilab的智能電子產(chǎn)品，可互換部件，并能使用新一代的操作和分析軟件（SAM/SEA）進行操作和分析。該系統(tǒng)可以使用計算機或者筆記本電腦通過局域網(wǎng)或新的觸摸屏界面來控制。

SE-2000型橢便儀可以和Semilab其他測量儀器結(jié)合使用，比如4PP方塊電阻測量、渦流測量、μ-PCR、拉曼測量、光致發(fā)光測量等。

應(yīng)用：

1）光電子

LED, 光電子產(chǎn)品: AlGaN, GaN, InP等材料測試.

光學反射膜,增透膜, III-V電子器件(EEL, VCSEL, ECL)

MEMS

Sol-Gel/多孔膜

2）太陽能電池應(yīng)用:

薄膜和硅太陽能電池、納米結(jié)構(gòu)電池等

透明導電氧化物、納米點、納米線、碳納米管CNT等

3）有機物:

OLED, OPV, 傳感器, OTFT

4）半導體：

高k材料、柵氧化層、氮化硅、低K材料等

互聯(lián)線、光刻膠等

外延層: SOI, SiGe, Strained Si, SiC, Poly

5）平面顯示:

TFT-LCD, LTPS, IGZO, OLED, 電致變色膜

6）其他應(yīng)用:

鐵電材料 (BST, SBT, PZT)

燃料電池SOFC, 多孔電極

石墨烯

3D材料、周期性結(jié)構(gòu)材料